Opto Edu A63.7016 Microscope électronique à balayage par filament de tungstène, SE+BSE+EDS, 100000x
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Mettre en évidence
Filament de tungstène de table SEM
,microscope électronique à balayage avec EDS
,microscope électronique à grossissement 100000x
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Résolution130eV
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Tension d'accélération5kV, 10kV, 15kV
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Platine d'échantillonnage mobile 3DX : ±25 mm Y : ±25 mm Z :30 mm
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L'échantillon de taille maximale"90 mm (diamètre) 40 mm (épaisseur)"
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Canon électroniqueFilament de tungstène à cartouche pré-centrée
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Signal d'imageÉlectron rétrodiffusé
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Lieu d'origineChine
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Nom de marqueCNOEC, OPTO-EDU
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CertificationCE, Rohs
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Numéro de modèleA63.7016
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Document
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Quantité de commande min1 pièce
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PrixFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Détails d'emballageEmballage de carton, pour le transport d'exportation
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Délai de livraison5~20 jours
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Conditions de paiementT / T, West Union, Paypal
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Capacité d'approvisionnement5000 pièces/mois
Opto Edu A63.7016 Microscope électronique à balayage par filament de tungstène, SE+BSE+EDS, 100000x
Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Opto Edu A63.7016
SE+ESB+EDS, grossissement 100 000x
Performances analytiques avancées
L'A63.7016 SuperSEM rompt avec la tradition avec l'analyse élémentaire EDS en temps réel, combinant les technologies SEM et EDS dans un système optique électronique avancé. Avec des performances analytiques exceptionnelles, une imagerie spectroscopique pseudo-couleur à dispersion d'énergie en temps réel et un fonctionnement convivial, il permet une analyse approfondie de la structure de surface et des éléments chimiques des échantillons.
Caractéristiques principales du SuperSEM A63.7016
- Affichez toujours les spectres de rayons X en temps réel
- Imagerie pseudo-couleur par spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS) en temps réel
- Mettre en évidence les éléments d’intérêt lors de l’analyse
Aperçu de la technologie
Le microscope électronique à balayage utilise un faisceau d'électrons comme source d'éclairage, irradiant les échantillons avec un faisceau d'électrons fin et focalisé selon un balayage raster. Cela génère diverses informations liées aux propriétés de l'échantillon, qui sont collectées et traitées pour obtenir des images agrandies de la morphologie microscopique. Comparé aux microscopes optiques ou à transmission, il offre une haute résolution, une grande profondeur de champ et des capacités d'imagerie tridimensionnelle.
Avantages en termes de performances
- Vitesse de numérisation rapide :Bande passante d'acquisition du signal jusqu'à 10M. Le mode vidéo permet l'observation d'échantillons en temps réel sans image fantôme ni traînée, garantissant qu'aucun détail n'est manqué.
- Conception compacte :Le dispositif structurellement efficace ne nécessite aucune salle d'équipement spéciale ni tables supplémentaires d'isolation des vibrations. Plug-and-play avec alimentation secteur standard, adapté aux espaces de laboratoire limités.
- Technique de coloration avancée :La coloration des images SEM met visuellement en évidence les détails de l’échantillon, améliorant ainsi la reconnaissance des caractéristiques et facilitant l’analyse. La différenciation des couleurs peut révéler la composition des matériaux, améliorant ainsi les résultats de la recherche.
- Comparaison spectrale en temps réel :Les résultats quantitatifs s'affichent en temps réel sans terminer la collecte, permettant une comparaison avec les spectres précédents pendant le processus de collecte.
- Analyse visualisée du spectre énergétique :Sélectionnez librement les plages d'analyse pour les points, les lignes ou les surfaces. D'excellents algorithmes de visualisation permettent une séparation précise des pics spectraux proches et affichent la distribution spatiale élémentaire pour étudier les caractéristiques des matériaux.
Spécifications techniques
| Spécification | A63.7016 | A63.7016-X | A63.7016-V | A63.7016-L |
|---|---|---|---|---|
| Résolution | 130eV | 130eV | 130eV | 130eV |
| Tension d'accélération | 5kV, 10kV, 15kV | 5kV, 10kV, 15kV | 5kV, 20kV, 25kV, 30kV | 5 kV, 10 kV, 15 kV, 20 kV, 25 kV, 30 kV |
| Platine d'échantillonnage mobile 3D | X : ±25 mm Y : ±25 mm Z :30 mm | X : ±25 mm Y : ±25 mm Z :30 mm | X : ±25 mm Y : ±25 mm Z :30 mm | X : ± 50 mm Y : ± 50 mm Z : 60 mm |
| L'échantillon de taille maximale | 90 mm (diamètre) 40 mm (épaisseur) | 90 mm (diamètre) 40 mm (épaisseur) | 90 mm (diamètre) 40 mm (épaisseur) | 200 mm (diamètre) 60 mm (épaisseur) |
| Multiplication de la puissance | ×10 ~ ×100 000 (grossissement photo) ×25 ~ ×250 000 (multiplicateur d'affichage) | |||
| Pistolet à électrons | Filament de tungstène à cartouche pré-centrée | |||
| Détecteur | ESB : Détecteur ESB 4 segments haute sensibilité | ESB : Détecteur ESB 4 segments haute sensibilité SE : Détecteur d'électrons secondaires EDS : imagerie pseudo-couleur du spectre énergétique en temps réel |
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| Paramètre EDS | / | Type de détecteur : détecteur de dérive de silicium Zone de détection : 30 mm² Résolution : 130eV Gamme d'analyse élémentaire : B-Cf |
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| Signal d'image | Électron rétrodiffusé | Électron rétrodiffusé, détecteur de spectre d'énergie en temps réel auto-développé, électron secondaire, mélange (électron rétrodiffusé + électron secondaire + imagerie pseudo-couleur du spectre d'énergie en temps réel) | ||
| Mode vide | Standard, réduction de charge | |||
| Conducteur | ESB, Standard, Réduction de charge | |||
| Taille (L × L × H) | 292 mm × 570 mm × 515 mm | 292 mm × 570 mm × 515 mm | 292 mm × 570 mm × 515 mm | 292 mm × 570 mm × 515 mm |
| Poids | 55KG | 56KG | 57KG | 66KG |
Applications
Le SuperSEM A63.7016 est équipé d'une tension d'accélération élevée, de capacités d'observation multi-angles et d'un logiciel d'analyse de données qui permet une mise au point automatique, un balayage rapide et une observation en temps réel de la distribution des éléments de l'échantillon en mode vidéo. Il garantit une acquisition et une analyse d'images précises et efficaces pour les matériaux tels que les métaux, les céramiques, les batteries, les revêtements, le ciment et les matières molles, ce qui en fait un outil puissant pour la recherche scientifique et les tests industriels.
Produits connexes
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