Opto-EDU A63.7235 Microscope électronique à champ d'émission à haut débit 12KV 600000x
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Microscope électronique de balayage par émission de champ 12KV
,Microscope de balayage à haut débit 600000x
,Opto-EDU SEM avec grossissement élevé
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Canon électroniqueSCHOTTKY TYPE THERMAL FILET EMmission Source du faisceau de faisceau stabilité du courant <1% / j
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Système d'objectif objectifMode de décélération de l'objectif du composé électromagnétique Sorril ™ Mode de décélération
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Distance de travail standard1,5 mm
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Champ de vision maximum100UM (distance de travail standard) 1 mm (distance de travail maximale)
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Détecteur d'électrons (standard)Détecteur SE en colonne SE Détecteur de l'ESB
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Détection de hauteur WDSystème de suivi de mise au point automatique Focus Tracking ™
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Lieu d'origineCHINE
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Nom de marqueCNOEC, OPTO-EDU
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CertificationCE, Rohs
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Numéro de modèleA63. Je vous en prie.7230
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Document
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Quantité de commande min1 pc
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PrixFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Détails d'emballageEmballage de carton, pour le transport d'exportation
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Délai de livraison5 à 20 jours
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Conditions de paiementT / T, West Union, Paypal
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Capacité d'approvisionnementmois de 5000 PCs
Opto-EDU A63.7235 Microscope électronique à champ d'émission à haut débit 12KV 600000x
Opto-EDU A63.7235 Microscope électronique à champ d'émission à haut débit 12KV 600000x
Principales caractéristiques
- Résolution 1.5nm@1Kv, acquisition automatique de couture d'image grande jusqu'à cm2 Taille
- Imagerie synchrone à deux canaux de l'ESE et de l'ESB à 100 M pixels/s
- Vitesse d'imagerie complète > 10 fois celle des microscopes électroniques traditionnels
- Génération rapide de rapports d'analyse de données à partir d'images SEM massives
- Caractérisation transversale des matériaux de millimètres à nanomètres
Le microscope électronique de balayage par émission de champ à haut débit A63.7235 est conçu pour la caractérisation et l'analyse SEM à grande échelle d'échantillons à grande échelle, largement utilisé dans la recherche et l'industrie.Sa technologie d'imagerie automatique à très haute vitesse offre une expérience d'imagerie extraordinaire..
Capacités de base:
- Résolution 1.5nm@1Kv, acquisition automatique de couture d'images de grande taille jusqu'à cm2
- Imagerie synchrone à deux canaux de l'ESE et de l'ESB à 100 M pixels/s
- Vitesse d'imagerie complète > 10 fois celle des microscopes électroniques traditionnels
- Génération rapide de rapports d'analyse de données à partir d'images SEM massives
- Caractérisation transversale des matériaux de millimètres à nanomètres
Le microscope électronique à champ d'émission de balayage à haut débit A63.7235, développé indépendamment par Opto-Edu,atteint un rendement d'imagerie élevé grâce à une conception systématique et innovante de la technologie d'imagerie, plateforme de mouvement, contrôle de circuit et algorithmes intelligents, avec des vitesses d'imagerie dépassant les microscopes électroniques traditionnels par des dizaines de fois.surmonter les limites de la technologie SEM traditionnelle en matière de vitesse, précision et dommages aux échantillons.
Spécifications techniques
| Lentilles électroniques optiques | |
|---|---|
| Pistolet électronique | Émission de champ thermique de type Schottky Faisceau de source d'électrons Stabilité du courant < 1%/jour |
| Système de lentilles | SORRILTM Mode de décélération de l'étape de l'échantillon de l'objectif composé électromagnétique |
| Résolution | 1.5 nm @ 1 kV 1.3nm @ 3kV |
| Lentille électromagnétique à immersion (*1) | |
| Voltage d'accélération | 0.1-12 kV réglable en continu (*2) |
| Magnification | Le nombre de fois où les données sont utilisées est supérieur ou égal à 500X. 1X-600X (navigation optique) |
| Courant de faisceau | Pour les appareils à commande numérique, la valeur de l'indicateur doit être supérieure ou égale à: |
| Distance de travail standard | 1.5 mm |
| Maximum de champ de vision | 100 mm (distance de travail standard) 1 mm (distance de travail maximale) |
| Blancheur de faisceau électronique | Blanker électrostatique |
Caractéristiques avancées
▶ Imagerie ultra-rapide
- Obtention d'images synchrones à double canal d'électrons secondaires et d'électrons rétro-dispersés grâce à une conception matérielle et logicielle développée indépendamment: imagerie haute résolution au niveau vidéo
- La fréquence d'images au niveau vidéo haute définition permet l'observation en temps réel des changements dynamiques de l'échantillon
▶ Haute qualité d'image
- Le système de lentilles composites électromagnétiques à immersion unique réduit efficacement les aberrations optiques
- Le système de déformation par balayage électrostatique réduit la distorsion du bord de l'image
- Les détecteurs d'électrons directs à semi-conducteurs In-Lens SE et BSE permettent une imagerie simultanée à haute vitesse à double canal
- Le système de compensation active élimine les interférences environnementales
▶ Imagerie à grande échelle
- Capacité d'imagerie par balayage ultra-haut débit avec système de suivi de mise au point entièrement automatique
- Les algorithmes de traitement d'image A.I. permettent une numérisation de matrice ininterrompue entièrement automatique à haute résolution
- Couture automatique pour obtenir une image panoramique de grande taille à une résolution de nanomètre
▶ Une analyse intelligente
- Analyse intelligente des données volumineuses, génération rapide de rapports d'analyse des données
- Processus d'image intelligent, mesure d'image personnalisée, statistiques et analyse
▶ Opération simple
- Chargement et navigation d'échantillons entièrement automatiques, remplacement d'échantillons en un clic
- La navigation par imagerie optique à grand champ se connecte parfaitement à l'imagerie SEM
- Capacité d'exploitation sans pilote entièrement automatisée 24 heures sur 24, 7 jours sur 7
Exemples d'applications
Observer la microstructure des cellules du cerveau, du cœur, du foie et des reins de souris sous microscopie électronique à balayage, en utilisant Arrays Scan pour effectuer un balayage entièrement automatique sur des échantillons de la zone cible.
L'échantillon est préparé en utilisant une méthode de découpe continue, en recueillant jusqu'à des centaines de tranches, en les plaçant sur un cercle d'échantillons et en les chargeant dans le SEM à la fois.
Analyse pathologique: recueillir toutes les informations détaillées sur l'ensemble de la tranche, et zoomer sur n'importe quelle zone pour observer clairement l'ultra-structure des organites sous-cellulaires sur le tissu rénal.
Les notes
* Note:
①: Lentille électromagnétique non immersive en option pour l'observation des matériaux ferromagnétiques
②Optionnel: pistolet électronique de 0 à 30 kV
③: facultatif 100nA
④: Interféromètre laser en option
①: Lentille électromagnétique non immersive en option pour l'observation des matériaux ferromagnétiques
②Optionnel: pistolet électronique de 0 à 30 kV
③: facultatif 100nA
④: Interféromètre laser en option
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