Opto-EDU A63.7220 Microscope électronique à transmission d'émission de champ, 200KV, 1500000x
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Tension d'accélération200 kV, aligné en usine à 80 kV et 200 kV
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Source d'électronsÉmetteur de champ Schottky à haute luminosité
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Courant de la sonde≥ 1,5nA/1nm La sonde
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Résolution de la ligne TEM0.23 nm
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Vacuum du canon FEGune résistance à l'usure inférieure ou égale à 1 × 10-6Pa,
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GoniomètreGoniomètre entièrement excentrique avec moteur à 5 axes
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Lieu d'origineChine
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Nom de marqueCNOEC, OPTO-EDU
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CertificationCE, Rohs
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Numéro de modèleA63. Je vous en prie.7220
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Document
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Quantité de commande min1 pour cent
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PrixFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Détails d'emballageEmballage de carton, pour le transport d'exportation
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Délai de livraison5 à 20 jours
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Conditions de paiementT/T, union occidentale, Paypal
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Capacité d'approvisionnementmois de 5000 PCs
Opto-EDU A63.7220 Microscope électronique à transmission d'émission de champ, 200KV, 1500000x
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A63. Je vous en prie.7220est un microscope électronique à transmission par émission de champ (TEM), 200KV, 1500000x, développé indépendamment et conçu pour la science des matériaux, les semi-conducteurs et d'autres domaines.Ce microscope électronique est conçu pour être facile à utiliser et très stable, et peut fournir des solutions telles que la diffraction des électrons in situ, haute résolution et microcristallique. |
| Une conception conviviale | L'apparence et la conception de l'interface utilisateur raffinées, une vision entièrement nouvelle, répondent aux besoins d'exploitation des utilisateurs de différents niveaux; fournissent des tutoriels vidéo d'exploitation. |
| Une nouvelle conception de lentille | Il adopte une conception de système de condensation en quatre étapes, qui peut être contrôlée indépendamment, ce qui permet de contrôler l'angle de convergence et l'intensité du faisceau d'électrons pour diverses études d'imagerie;Il est également équipé d'une grande chaussure à poteau., qui peut effectuer une caractérisation in situ dans une variété de conditions. |
| Des images de haute qualité | Le microscope électronique est équipé d'une caméra CMOS très sensible, qui peut facilement obtenir des images de haute qualité. |
| Microscope électronique à transmission d'émission de champ (TEM), 200KV, 1500000x | |
| Voltage d'accélération | 200 kV, usine alignée à 80 kV et 200 kV |
| Source d'électrons | Émetteur de champ Schottky à haute luminosité |
| Courant de la sonde | ≥ 1,5nA/1nm La sonde |
| Courant de faisceau | Maximum ≥ 50nA à 200 kV |
| Résolution de la ligne TEM | 0.23 nm |
| Limite d'information du TEM | 0.2 nm |
| Magnification | 20x à 1500000x. |
| Vacuum du canon FEG | une résistance à l'usure inférieure ou égale à 1 × 10-6Pa, |
| Vacuum de la colonne TEM | Pour les appareils de traitement de l'air |
| Goniomètre | Goniomètre entièrement excentrique avec moteur à 5 axes |
| La caméra | Caméra CMOS montée au bas de 20M à vitesse améliorée EMSIS XAROSA 5120x3840 |
| La scène | Détenteur à double inclinaison de la scène de calcul |
| Les mesures suivantes doivent être appliquées: | |
| Mise à niveau | STEM, échantillons cryo, tomographie, analyse EDS |
| Garantie | Garantie Un (1) an. |
| Accessoires facultatifs | |
| Installation | Paquet de services d'installation sur site et de formation opérationnelle facultatif |
| STEM | Détecteur PNDétecteur STEM annulaire, module avancé ADV-STEM (y compris STEM-HAADF et BF) |
| Système de détection | Pour les appareils électroniques |
| Porteur de tomographie | 1.. taille de l'échantillon: φ3 mm. |
| 2- Plage d'inclinaison alpha: ± 70°. | |
| 3Résolution: ≤ 0,34 nm (dans n'importe quelle direction). | |
| 4Taux de dérive: < 1,5 nm/min. | |
| 5. champ de vision: ≥ 1,6 mm @ inclination de 70°. | |
| Détenteur de l'échantillon cryogénique | Détenteur de l'échantillon cryogénique: |
| 1Taille de l'échantillon: φ3 mm. | |
| 2.Tendance d'inclinaison alpha: ± 70°. | |
| 3. Résolution: ≤ 0,34 nm (dans n'importe quelle direction). | |
| 4Taux de dérive: < 1,5 nm/min. | |
| 5. champ de vision: ≥ 1,6 mm @ inclination de 70°. | |
| Station de pompage moléculaire | |
| 1Le vide ultime est meilleur que 10e-7 mbar. | |
| 2.Multifonctionnel: stockage d'échantillons et de tiges, test de fuite de tiges sur place. | |
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