OPTO-EDU A63.7225 Microscope électronique à transmission par émission thermique 200KV 800000x
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Tension d'accélération200 kV, aligné en usine à 80 kV et 200 kV
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Source d'électronsÉmetteur de tungstène polycristallin ou LaB6
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Résolution des points TEM0.23 nm
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Limite d'information du TEM0.2 Nm
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Magnification20x à 800000x.
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GoniomètreGoniomètre excentrique à 5 axes motorisé,
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Lieu d'origineChine
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Nom de marqueCNOEC, OPTO-EDU
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CertificationCE, Rohs
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Numéro de modèleA63.7225
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Document
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Quantité de commande min1 pour cent
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PrixFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Détails d'emballageEmballage de carton, pour le transport d'exportation
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Délai de livraison5 à 20 jours
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Conditions de paiementT/T, union occidentale, Paypal
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Capacité d'approvisionnementmois de 5000 PCs
OPTO-EDU A63.7225 Microscope électronique à transmission par émission thermique 200KV 800000x
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A63.7225 est un microscope électronique à transmission (TEM) à émission thermique, 200KV, 800000x, développé et conçu indépendamment spécifiquement pour des domaines tels que la biologie et la médecine. La conception de ce microscope électronique est facile à utiliser, et sa conception à grande semelle polaire fournit des solutions telles que la caractérisation 3D, l'observation in situ et la diffraction électronique microcristalline. |
| Fonctionnement simple | Conception optimisée du panneau et de l'interface utilisateur, même les débutants en microscopie électronique à transmission peuvent utiliser directement l'appareil ; Fournir des vidéos d'instructions pour l'utilisation. |
| Fonction automatique | Insertion et retrait automatiques des tiges d'échantillon, contrôle automatique de l'ouverture, etc. |
| Caméra haute sensibilité | Le microscope électronique est équipé d'une caméra CMOS haute sensibilité, qui peut facilement obtenir des images de haute qualité. |
| Microscope électronique à transmission à émission thermique, 200KV, 800000x | |
| Tension d'accélération | 200 kV, aligné en usine à 80 kV et 200 kV |
| Source d'électrons | Émetteur en tungstène polycristallin ou LaB6 |
| Résolution ponctuelle TEM | 0,23 nm |
| Limite d'information TEM | 0,2 nm |
| Grossissement | 20x à 800000x. |
| Vide du canon FEG | < 1x10-6Pa, |
| Vide de la colonne TEM | <5x10-5Pa |
| Goniomètre | Goniomètre excentrique motorisé 5 axes, |
| Caméra | Caméra CMOS EMSIS XAROSA 5120x3840 montée en bas, améliorée en vitesse 20M |
| Platine | Porte-échantillon Compu Stage à double inclinaison |
| X ±1mm, Y ±1mm, Z ±0,35mm, α ±25°, β ±25° | |
| Évolutif | Analyse EDS |
| Garantie | Garantie un (1) an. |
| Accessoires optionnels | |
| Installation | Pack de services d'installation et de formation opérationnelle sur site en option |
| EDS | Bruker XFlash 7T30S |
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