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Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Scanner électronique à émission de champ Schottky

Mettre en évidence

Microscope électronique à balayage 2000000x
,
Microscope électronique à scanner d'émission de champ Schottky
,
Microscope électronique à balayage optique
Résolution

0.9nm@30kV (SE) 1.4nm@15kV (SE)
Grossissement

1 ¢ 200 000 x
Canon électronique

Pistolet à émission de champ Schottky
Tension

0.02kV 30kV
Faisceau électronique

1pA à 40nA
Temps de séjour

20ns
Lieu d'origine

Chine
Nom de marque

CNOEC, OPTO-EDU
Certification

CE, Rohs
Numéro de modèle

A63. Je vous en prie.7040
Document

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FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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T / T, West Union, Paypal
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Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Scanner électronique à émission de champ Schottky

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Spécification		A63.7140	A63.7160
Paramètres clés	Résolution	1.4nm@15kV(SE) 2.5nm@30.0kV(BSE)	0.9nm@30kV(SE) 1.2nm@15kV(SE) 1.5nm@1kV(SE, mode BD))
	Tension d'accélération	0.02kV〜30kV	0.02kV〜30kV
	Grossissement	1〜2000000x	1〜2000000x
	Canon à électrons	Canon à émission de champ thermique Schottky	Canon à émission de champ thermique Schottky
	Courant de sonde	1pA~40nA	1pA~40nA
	Champ de vision	6mm	6mm
	Temps de résidence	20ns	20ns
	Déflexion du faisceau	--	Système de déflexion à double faisceau : Système de déflexion à faisceau hybride électromagnétique et statique
	Lentille d'objectif	Système à double objectif : Lentille d'objectif magnétique et lentille d'objectif électrostatique, adaptable à l'échantillon magnétique	Système à double objectif : Lentille d'objectif magnétique et lentille d'objectif électrostatique, adaptable à l'échantillon magnétique
	Diaphragme du canon	(10µm,30µm,70µm,100µm,150µm,220µm)*2 jeux (1 pour la sauvegarde), motorisé	(10µm,30µm,70µm,100µm,150µm,220µm)*2 jeux (1 pour la sauvegarde), motorisé
Chambre	Taille de la chambre	Largeur 370mm, Hauteur 330mm, Profondeur 344mm	Largeur 370mm, Hauteur 330mm, Profondeur 344mm
	Port d'extension	10 ports	10 ports
	Système de vide	2 pompes ioniques 1 pompe turbomoléculaire 1 pompe mécanique sans huile	2 pompes ioniques 1 pompe turbomoléculaire 1 pompe mécanique sans huile
	Système de vide	Vide du canon : 2x10-7Pa Vide de la chambre : 6x10-4Pa	Vide du canon : 2x10-7Pa Vide de la chambre : 6x10-4Pa
	Platine	Platine automatique 5 axes, X:130mm, Y:130mm, Z:60mm, R: 360°, T: -10°〜70°, Charge maximale >500g	Platine automatique 5 axes, X:130mm, Y:130mm, Z:60mm, R: 360°, T: -10°〜70°, Charge maximale >500g
	Caméra	CCD de navigation couleur optique CCD IR haute définition	CCD de navigation couleur optique CCD IR haute définition
Détecteurs et extensions	Standard	Détecteur SE	Détecteur SE Détecteur SE Inlens
PC et logiciel	Ordinateur	Station de travail, Mémoire 16G, Disque dur 512G, Écran 24", Système Win10	Station de travail, Mémoire 16G, Disque dur 512G, Écran 24", Système Win10
	Contrôle	Panneau de commande et joystick	Panneau de commande et joystick
	Logiciel	Mise au point automatique, Stigmateur automatique, Luminosité/contraste automatiques, Format d'image TIFF, JPG, PNG, BMP, Résolution de sortie d'image max 16k*16k	Mise au point automatique, Stigmateur automatique, Luminosité/contraste automatiques, Format d'image TIFF, JPG, PNG, BMP, Résolution de sortie d'image max 16k*16k
Accessoires optionnels	A50.7101	BSE	BSE
	A50.7102	-	BSE InLens
	A50.7103	Spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS/EDX)	Spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS/EDX)
	A50.7104	Diagramme de diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD)	Diagramme de diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD)
	A50.7105	EDS+EBSD	EDS+EBSD
	A50.7106	Microscopie électronique à transmission à balayage (STEM)	Microscopie électronique à transmission à balayage (STEM)
	A50.7107	Courant induit par faisceau d'électrons (EBIC)	Courant induit par faisceau d'électrons (EBIC)
	A50.7108	Cathodoluminescence (CL)	Cathodoluminescence (CL)
	A50.7109	Plasma	Plasma
	A50.7110	Sas, entrepôt d'échange d'échantillons	Sas, entrepôt d'échange d'échantillons
	A50.7111	Blocage de faisceau	Blocage de faisceau
	A50.7120	Logiciel d'assemblage de grandes images	Logiciel d'assemblage de grandes images
	A50.7121	Logiciel d'analyse de particules	Logiciel d'analyse de particules
	A50.7112	Porte-échantillon sous vide	Porte-échantillon sous vide
	A50.7113	Système corrélatif Raman-SEM	Système corrélatif Raman-SEM
	A50.7115	UPS	UPS
	A50.7114	-	Filtre d'énergie intégré à la colonne ExB

▶ Forte compatibilité, haute adaptabilité

Peut être installé sur différents terminaux, tels que les ordinateurs, les téléphones portables et les tablettes, pour contrôler le microscope électronique ; Ce système d'exploitation de microscope électronique SEM-OS est compatible avec les SEM de différents fabricants et est compatible avec plusieurs modèles, élargissant l'écosystème SEM

▶ Logiciel et calcul intégrés, simples et efficaces

Interface utilisateur unifiée, pas besoin de s'adapter à plusieurs reprises à différents terminaux ; Équipé d'algorithmes d'IA pour collecter des informations et présenter des effets de sortie en temps réel avec une qualité d'image plus claire et des détails plus proéminents ; Le noyau du SEM accélère le contrôle matériel

① Barre de menu, ② Zone d'opération rapide, ③ Barre de données, ④ Zone de surveillance, ⑤ Zone de navigation, ⑥ Zone complète, ⑦ Zone d'opération, ⑧ Zone d'état

Le microscope électronique à balayage de la série A63.7140/A63.7160 est équipé de tiges de transfert sous vide IGS, de spectromètres d'énergie EDS, de spectroscopie Raman et d'autres accessoires, fournissant une solution complète pour la recherche sur les batteries au lithium, de la préparation des échantillons à l'observation de la morphologie, en passant par l'analyse de la composition et l'analyse structurelle.

Étape 1:La tige de transfert est chargée sur la boîte à gants pour compléter le transfert de l'échantillon de la boîte à gants vers le compartiment de la tige de transfert.

Étape 2:Le processus de transfert de l'échantillon implique le transfert de la pression positive à l'intérieur de la chambre de la tige pendant le processus de transfert.

Étape 3:La tige de transfert est chargée sur le microscope électronique pour transférer l'échantillon de la chambre de la tige vers la chambre principale du microscope électronique.

Étape 4:Prise de vue de l'échantillon et post-traitement des données, développement personnalisé selon les besoins de l'utilisateur.

▶ SEM + Spectromètre EDS + Tige de transfert sous vide + Spectroscopie Raman + Logiciel d'analyse

Analyse structurelle | Analyse mécanistique | Table de déplacement de haute précision

▶ Compenser l'analyse de la structure moléculaire que la technologie EDS ne peut pas réaliser, et saisir de manière exhaustive la composition de l'échantillon

▶ Réaliser une commutation rapide entre l'axe optique Raman et l'axe du faisceau d'électrons, une analyse multidimensionnelle des caractéristiques de l'échantillon et un suivi en temps réel. L'évolution structurelle des matériaux pendant les processus de charge et de décharge, et l'étude approfondie de leurs mécanismes d'assistance

▶ Table de déplacement piézoélectrique de grande course, de haute précision et à haute vitesse, permettant l'acquisition de données intégrée à la même position, répondant à l'analyse de stabilité de la surface Raman confocale à long terme