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Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Scanner électronique à émission de champ Schottky

Mettre en évidence

Microscope électronique à balayage 2000000x
,
Microscope électronique à scanner d'émission de champ Schottky
,
Microscope électronique à balayage optique
Resolution

0.9nm@30kV(SE) 1.4nm@15kV(SE)
Magnification

1 ¢ 200 000 x
Electron Gun

Schottky Field Emission Gun
Voltage

0.02kV～30kV
Electron Beam

1pA~40nA
Dwell Time

20ns
Lieu d'origine

Chine
Nom de marque

CNOEC, OPTO-EDU
Certification

CE, Rohs
Numéro de modèle

A63. Je vous en prie.7040
Document

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1 pièces
Prix

FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
Détails d'emballage

Emballage de carton, pour le transport d'exportation
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5 à 20 jours
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T/T, union occidentale, Paypal
Capacité d'approvisionnement

mois de 5000 PCs

Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Scanner électronique à émission de champ Schottky

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Spécification		A63. Je vous en prie.7140	A63. Je vous en prie.7160
Paramètres clés	Résolution	1.4nm@15kV ((SE) 2Le système de régulation de l'énergie doit être conforme à l'annexe II.	0.9nm@30kV ((SE) 1.2nm@15kV ((SE) 1.5nm@1kV(SE, mode BD)
	Voltage d'accélération	00,02 kVJe ne sais pas.30 kV	00,02 kVJe ne sais pas.30 kV
	Magnification	1Je ne sais pas.2000000x	1Je ne sais pas.2000000x
	Pistolet électronique	Pistolet à émission de champ thermique Schottky	Pistolet à émission de champ thermique Schottky
	Courant de la sonde	1pA à 40nA	1pA à 40nA
	Le champ de vision	6 mm	6 mm
	Temps de séjour	20 ans	20 ans
	Déviation du faisceau	- Je ne sais pas.	Système de déflexion à double faisceau: Système de déflexion de faisceau hybride électromagnétique et statique
	Lentille	Système à double objectif: Lentille d'objectif magnétique et lentille d'objectif électrostatique, échantillon magnétique Adaptable	Système à double objectif: Lentille d'objectif magnétique et lentille d'objectif électrostatique, échantillon magnétique Adaptable
	L'ouverture du canon	(10 μm, 30 μm, 70 μm, 100 μm, 150 μm, 220 μm) * 2 ensembles (1 pour les pièces de secours), moteur	(10 μm, 30 μm, 70 μm, 100 μm, 150 μm, 220 μm) * 2 ensembles (1 pour les pièces de secours), moteur
La chambre	Taille de la chambre	Largeur 370 mm, hauteur 330 mm, profondeur 344 mm	Largeur 370 mm, hauteur 330 mm, profondeur 344 mm
	Port d'extension	10 Ports	10 Ports
	Système de vide	2 pompes à ions 1 pompe moléculaire turbo 1 Pompes mécaniques sans huile	2 pompes à ions 1 pompe moléculaire turbo 1 Pompes mécaniques sans huile
	Système de vide	Vacuum du canon: 2x10-7Pa Vacuum de la chambre: 6x10-4Pa	Vacuum du canon: 2x10-7Pa Vacuum de la chambre: 6x10-4Pa
	La scène	Les points de contact doivent être les suivants:Je ne sais pas.70°, charge maximale > 500 g	Les points de contact doivent être les suivants:Je ne sais pas.70°, charge maximale > 500 g
	La caméra	CCD de navigation par couleur optique CCD IR haute définition	CCD de navigation par couleur optique CCD IR haute définition
Détecteurs et extensions	La norme	Détecteur SE	Détecteur SE Détecteur SE à lentille interne
PC et logiciels	Ordinateur	Station de travail, mémoire 16G, disque dur 512G, moniteur de 24 pouces, système Win10	Station de travail, mémoire 16G, disque dur 512G, moniteur de 24 pouces, système Win10
	Contrôle	Panneau de commande et joystick	Panneau de commande et joystick
	Logiciel	La résolution maximale de sortie de l'image est de 16k*16k.	La résolution maximale de sortie de l'image est de 16k*16k.
Accessoires facultatifs	A50. Je vous en prie.7101	Épidémie d'ESB	Épidémie d'ESB
	A50. Je vous en prie.7102	-	InLens ESB
	A50. Je vous en prie.7103	Spéctroscopie dispersée de l'énergie (EDS/EDX)	Spéctroscopie dispersée de l'énergie (EDS/EDX)
	A50. Je vous en prie.7104	Modèle de diffraction par rétrécissement d'électrons (EBSD)	Modèle de diffraction par rétrécissement d'électrons (EBSD)
	A50. Je vous en prie.7105	EDS + EBSD	EDS + EBSD
	A50. Je vous en prie.7106	Scanner électronique de transmission (STEM)	Scanner électronique de transmission (STEM)
	A50. Je vous en prie.7107	Courant induit par faisceau d'électrons (EBIC)	Courant induit par faisceau d'électrons (EBIC)
	A50. Je vous en prie.7108	Catodoluminescence (CL)	Catodoluminescence (CL)
	A50. Je vous en prie.7109	Le plasma	Le plasma
	A50. Je vous en prie.7110	Écluse aérienne, entrepôt d'échange d'échantillons	Écluse aérienne, entrepôt d'échange d'échantillons
	A50. Je vous en prie.7111	Légumes à base de plantes	Légumes à base de plantes
	A50. Je vous en prie.7120	Logiciel de couture d'image	Logiciel de couture d'image
	A50. Je vous en prie.7121	Logiciel d'analyse des particules	Logiciel d'analyse des particules
	A50. Je vous en prie.7112	Détenteur de transfert sous vide	Détenteur de transfert sous vide
	A50. Je vous en prie.7113	Système corrélatif Raman-SEM	Système corrélatif Raman-SEM
	A50. Je vous en prie.7115	Télécommandes	Télécommandes
	A50. Je vous en prie.7114	-	Monteur d'énergie intégré à la colonne ExB

▶Une forte compatibilité et une grande adaptabilité

Peut être installé sur différents terminaux, tels que les ordinateurs, les téléphones mobiles et les tablettes, pour contrôler le microscope électronique;Ce système d'exploitation de microscope électronique SEM-OS est compatible avec SEM de différents fabricants et est compatible avec plusieurs modèles, élargissant l'écosystème SEM

▶Logiciel et informatique intégrés, simples et efficaces

Interface utilisateur unifiée, pas besoin d'adapter à plusieurs reprises à différents terminaux;Équipé d'algorithmes d'IA pour collecter des informations et présenter des effets de sortie en temps réel avec une qualité d'image plus claire et des détails plus importants; le SEM basé sur le noyau accélère le contrôle du matériel

1 barre de menu, 2 zone d'opération rapide, 3 barre de données, 4 zone de surveillance, 5 zone de navigation, 6 zone complète, 7 zone d'opération, 8 zone d'état

Le microscope électronique à balayage de la série A63.7140/A63.7160 est équipé de barres de transfert de vide IGS, de spectromètres d'énergie EDS, de spectroscopie Raman et d'autres accessoires,fournissant une solution globale pour la recherche sur les batteries au lithium à partir de la préparation d'échantillons, l'observation de la morphologie, l'analyse de la composition et l'analyse structurelle.

Étape 1:La tige de transfert est chargée sur la boîte à gants pour compléter le transfert de l'échantillon de la boîte à gants vers le compartiment de la tige de transfert.

Étape 2:Le processus de transfert d'échantillon consiste à transférer la pression positive à l'intérieur de la chambre de la tige pendant le processus de transfert.

Étape 3:La tige de transfert est chargée sur le microscope électronique pour transférer l'échantillon de la chambre de tige de transfert à la chambre principale du microscope électronique.

Étape 4:Prélèvement d'échantillons et post-traitement des données, développement sur mesure selon les besoins de l'utilisateur.

▶Spéctromètre SEM+ EDS + tige de transfert de vide + spectroscopie Raman + logiciel d'analyse

Analyse structurelle. Analyse des mécanismes. Tableau de déplacement de haute précision.

▪ Compenser l'analyse de la structure moléculaire que la technologie EDS n'est pas en mesure d'effectuer et comprendre la composition de l'échantillon.

▪ Réaliser un changement rapide entre l'axe optique de Raman et l'axe optique du faisceau d'électrons, une analyse multidimensionnelle des caractéristiques des échantillons et un suivi en temps réel. L'évolution structurelle des matériaux lors des processus de chargement et de déchargement et l'étude approfondie de leurs mécanismes d'assistance

▪ Tableau de déplacement en céramique piézoélectrique à grande vitesse, haute précision et à grande vitesse, permettant l'acquisition intégrée de données à la même position,Réunion Analyse de la stabilité de la surface de Raman confocale à long terme