Microscope à force atomique de niveau recherche

• Niveau de recherche, contrôleur combiné et conception du corps principal, avec mode contact, mode taraudage, objectif 10x.
• Dispositif de positionnement laser et sonde de précision, il est simple et pratique de remplacer la sonde et d'ajuster le point
• Des scanners céramiques piézoélectriques de haute précision et à grande échelle peuvent être sélectionnés en fonction de différentes exigences de précision et de portée de balayage
• Positionnement optique de la lentille d'objectif 10X APO, pas besoin de mise au point, observation et positionnement en temps réel de la zone de numérisation de l'échantillon de la sonde ;
• La méthode antichoc à suspension à ressort est simple et pratique, et possède une forte capacité anti-interférence.

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• ◆ La tête de détection laser et l'étape de numérisation de l'échantillon sont intégrées, la structure est très stable et l'anti-interférence est forte

• ◆ Dispositif de positionnement de sonde de précision, le réglage de l'alignement du point laser est très facile

  ◆ L'échantillon d'entraînement à axe unique s'approche automatiquement de la sonde verticalement, de sorte que la pointe de l'aiguille soit perpendiculaire au balayage de l'échantillon

  ◆ La méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille de détection automatique en céramique piézoélectrique sous pression contrôlée par moteur protège la sonde et l'échantillon

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  ◆ Des scanners céramiques piézoélectriques de haute précision et à grande portée peuvent être sélectionnés librement

   

  ◆ Positionnement optique automatique de la lentille d'objectif à fort grossissement, pas besoin de mise au point, observation et positionnement en temps réel de la zone de numérisation de l'échantillon de la sonde

• ◆ Méthode antichoc à suspension à ressort, simple et pratique, bon effet antichoc

  ◆ Boîtier insonorisé blindé en métal, capteur de température et d'humidité de haute précision intégré, surveillance en temps réel de l'environnement de travail

• ◆ Éditeur utilisateur de correction non linéaire du scanner intégré, caractérisation nanométrique et précision de mesure supérieure à 98 %

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• spécification	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  En mode travail	Mode tapotement [Optionnel] Mode de contact Mode de friction Mode phases Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode tapotement [Optionnel] Mode de friction Mode phases Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode tapotement [Optionnel] Mode de friction Mode phases Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode tapotement [Optionnel] Mode de friction Mode phases Mode magnétique Mode électrostatique
  Courbe du spectre actuel	Courbe RMS-Z [Optionnel] Courbe de force FZ	Courbe RMS-Z Courbe de force FZ	Courbe RMS-Z Courbe de force FZ	Courbe RMS-Z Courbe de force FZ
  Plage de balayage XY	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  Résolution de numérisation XY	0,2 nm	0,2 nm	0,2 nm	0,2 nm
  Plage de balayage Z	2.5um	2.5um	5um	5um
  Résolution de numérisation Y	0,05 nm	0,05 nm	0,05 nm	0,05 nm
  Vitesse de numérisation	0,6 Hz ~ 30 Hz	0,6 Hz ~ 30 Hz	0,6 Hz ~ 30 Hz	0,6 Hz ~ 30 Hz
  Angle de balayage	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Taille de l'échantillon	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Déplacement de scène XY	15×15mm	15×15mm	25×25um	25×25um
  Conception absorbant les chocs	Suspension à ressort	Suspension à ressort Boîte de blindage en métal	Suspension à ressort Boîte de blindage en métal	-
  Système optique	4x objectif Résolution 2.5um	4x objectif Résolution 2.5um	10x objectif Résolution 1um	Oculaire 10x Plan Infinity LWD APO 5x10x20x50x Appareil photo numérique 5.0M Moniteur LCD 10", avec mesure Éclairage LED Kohler Mise au point grossière et fine coaxiale
  Production	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Logiciel	Win XP/7/8/10	Win XP/7/8/10	Win XP/7/8/10	Win XP/7/8/10

• Microscope	Microscope optique	Microscope électronique	Microscope à sonde à balayage
  Résolution maximale (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Remarque	Immersion dans l'huile 1500x	Imagerie des atomes de carbone du diamant	Imagerie d'atomes de carbone graphitiques d'ordre élevé

• Interaction sonde-échantillon	Mesurer le signal	Informations
  Force	Force électrostatique	Forme
  Courant tunnel	Courant	Forme, conductivité
  Force magnétique	Phase	Structure magnétique
  Force électrostatique	Phase	répartition des charges

• 	Résolution	Condition de travail	Température de travail	Dommage à l'échantillon	Profondeur d'inspection
  MPS	Niveau atomique 0,1 nm	Normal, Liquide, Vide	Chambre ou basse température	Aucun	1 ~ 2 niveau d'atome
  TEM	Pointe 0,3 ~ 0,5 nm Réseau 0,1 ~ 0,2 nm	Vide poussé	Température ambiante	Petit	Habituellement <100nm
  MEB	6-10nm	Vide poussé	Température ambiante	Petit	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Niveau atomique 0,1 nm	Super haut vide	30~80K	Dommage	Épaisseur d'atome

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