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Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem 1x~600000x Magnification A63.7080

Microscope électronique à balayage par souris contrôlé Sem 1x~600000x Magnification A63.7080

Produits - Microscope de balayage
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    microscope à balayage électronique commandé de souris les PSEM

    ,

    microscope à balayage électronique du rapport optique 800000x les PSEM

  • Résolution
    1,5 nm à 15 KV (SE) ; 3nm @ 20KV (ESB)
  • Grossissement
    1x ~ 600 000x
  • Canon électronique
    Pistolet à électrons à émission Schottky
  • Tension d'accélération
    0~30KV
  • Diamètre maximum de l'échantillon
    175 mm
  • Stade du spécimen
    Scène motorisée eucentrique à cinq axes
  • Lieu d'origine
    La Chine
  • Nom de marque
    OPTO-EDU
  • Certification
    CE, Rohs
  • Numéro de modèle
    A63.7080
  • Document
    Brochure du produit PDF
  • Quantité de commande min
    1 pc
  • Prix
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Détails d'emballage
    Emballage de carton, pour le transport d'exportation
  • Délai de livraison
    5 ~ 20 jours
  • Conditions de paiement
    T / T, West Union, Paypal
  • Capacité d'approvisionnement
    mois de 5000 PCs

Microscope électronique à balayage par souris contrôlé Sem 1x~600000x Magnification A63.7080

  • Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem 1x~600000x Magnification A63.7080
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A63. Je vous en prie.7080, A63.7081 Fonction principale du logiciel
Mise en service intégrée à haute tension Filament automatique allumé / éteint Régulation des changements potentiels
Réglage de la luminosité Réglage électrique à la centrale Lumière automatique
Réglage du contraste Réglage de la lentille Focalisation automatique
Réglage de l'agrandissement Dégaussage objectif Élimination automatique de l'astigmatisme
Mode de numérisation de zone sélectionné Réglage électrique de la rotation Gestion des paramètres du microscope
Mode de numérisation des points Réglage du déplacement du faisceau d'électrons Affichage en temps réel de la taille du champ de balayage
Mode de numérisation des lignes Réglage de l'inclinaison du faisceau d'électrons Réglage de la lentille du pistolet
Scanner de surface Réglage de la vitesse de balayage Entrée multicanal
Surveillance de la puissance haute tension Centrage par balancement Mesure de la règle


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Microscope électronique à balayage par souris contrôlé Sem 1x~600000x Magnification A63.7080 14
 
Le SEM A63. Je vous en prie.7069
A63.7069-L
A63.7069-LV		 A63. Je vous en prie.7080
A63.7080-L		 A63. Je vous en prie.7081
Résolution Le nombre total d'électrons émis par la centrale électrique est le suivant:
Le nombre d'émissions de CO2 est déterminé par la fréquence d'émission.		 1.5nm@30KV ((SE)
Le nombre de fois où les données sont utilisées		 1.0nm@30KV ((SE)
3.0nm@1KV ((SE)
2Le système de freinage doit être équipé d'un dispositif de freinage.
Magnification 1 x ~ 450000 x,Magnification réelle négative 1x~600000x, grossissement négatif vrai 1x~3000000x Magnification réelle négative
Pistolet électronique Cartouche de filament de tungstène précentré Pistolet à émission de champ Schottky Pistolet à émission de champ Schottky
Voltage Voltage d'accélération 0.2Je ne sais pas.30 kV, réglable en continu, étape d'ajustement 100V@0-10Kv, 1KV@10-30KV
Vue rapide Fonction de vue rapide d'image d'une touche N/A N/A
Système de lentilles Lentilles coniques électromagnétiques à trois niveaux Lentilles coniques électromagnétiques à plusieurs niveaux
L'ouverture 3 ouvertures d'objectif en molybdène, réglables en dehors du système de vide, pas besoin de démonter l'objectif pour changer l'ouverture
Système à vide 1 pompe moléculaire turbo
1 Pompes mécaniques
Vacuum de la salle d'échantillonnage> 2,6 E-3 Pa
Vacuum de la salle des armes à électrons > 2,6E-3Pa
Contrôle automatique du vide
Fonction de verrouillage sous vide

Modèle facultatif: A63.7069-LV
1 pompe moléculaire turbo
2Pompes mécaniques
Vacuum de la salle d'échantillonnage> 2,6 E-3 Pa
Vacuum de la salle des armes à électrons > 2,6E-3Pa
Contrôle automatique du vide
Fonction de verrouillage sous vide
Faible videDimension de 10 à 270 Pa pour la commutation rapide en 90 secondes pour l'ESB		 1 ensemble de pompes ioniques
1 pompe moléculaire turbo
1 Pompes mécaniques
Vacuum de la salle d'échantillonnage> 6E-4Pa
Pour les armes à feu à électrons, le vide de la pièce> 2E-7 Pa
Contrôle automatique du vide
Fonction de verrouillage sous vide		 1 Pompes à ions par pulvérisation
1 Pompes à ions Getter
1 pompe moléculaire turbo
1 Pompes mécaniques
Vacuum de la salle d'échantillonnage> 6E-4Pa
Pour les armes à feu à électrons, le vide de la pièce> 2E-7 Pa
Contrôle automatique du vide
Fonction de verrouillage sous vide
Détecteur SE: Détecteur d'électrons secondaire à vide élevé (avec protection contre le détecteur) SE: Détecteur d'électrons secondaire à vide élevé (avec protection contre le détecteur) SE: Détecteur d'électrons secondaire à vide élevé (avec protection contre le détecteur)
BSE: Ségmentation des semi-conducteurs 4
Détecteur de rétrécissement		 Optionnel Optionnel
Modèle facultatif: A63.7069-LV
Épidémie d'ESB: Semi-conducteurs 4 Segmentation
Détecteur de rétrécissement		 　 　
Le CCD:Caméra CCD infrarouge Le CCD:Caméra CCD infrarouge Le CCD:Caméra CCD infrarouge
Étendre le port 2 Étendre les ports sur la salle d'échantillonnage pour
EDS, BSD, WDS, etc. Il est également possible d'utiliser des systèmes de détection des déchets.		 4 Étendre les ports sur la salle d'échantillonnage pour
L'ESB, le SDE, le SDS, le SDS, etc.		 4 Étendre les ports sur la salle d'échantillonnage pour
L'ESB, le SDE, le SDS, le SDS, etc.
Étape du prélèvement 5 axes étape, 4Automobile+ 1Le manuelContrôle
Autonomie de déplacement:
X = 70 mm, Y = 50 mm, Z = 45 mm,
R=360°, T=-5°~+90° (voir le manuel)
Touchez la fonction d'alerte et d'arrêt

Modèle facultatif:
A63.7069-L5 axes Auto grande scène		 5 AxesAutomobile Au milieuLa scène
Autonomie de déplacement:
X = 80 mm, Y = 50 mm, Z = 30 mm,
R=360°, T=-5° à +70°
Touchez la fonction d'alerte et d'arrêt

Modèle facultatif:
A63.7080-L5 AxesAutomobile Les plus grosLa scène		 5 AxesAutomobile Les plus grosLa scène
Autonomie de déplacement:
X = 150 mm, Y = 150 mm, Z = 60 mm,
R=360°, T=-5° à +70°
Touchez la fonction d'alerte et d'arrêt
Exemplaire maximal Dia. 175 mm, hauteur 35 mm Dia. 175 mm, hauteur 20 mm Diamètre 340 mm, hauteur 50 mm
Système d'image Une image fixe réelle à résolution maximale de 4096 x 4096 pixels,
Format du fichier image: BMP (par défaut), GIF, JPG, PNG, TIF		 Réelle image fixe résolution maximale 16384 x 16384 pixels,
Format de fichier d'image: TIF (par défaut), BMP, GIF, JPG, PNG
Vidéo: Enregistrement automatique numérique.		 Réelle image fixe résolution maximale 16384 x 16384 pixels,
Format de fichier d'image: TIF (par défaut), BMP, GIF, JPG, PNG
Vidéo: Enregistrement automatique numérique.
Ordinateur et logiciels PC Work Station Win 10 Système, avec un logiciel professionnel d'analyse d'image pour contrôler complètement l'ensemble du fonctionnement du microscope SEM, Spécification de l'ordinateur pas moins d'Inter I5 3,2 GHz, mémoire 4G,Moniteur LCD IPS de 24 pouces, 500G Disque dur, souris, clavier
Affichage des photos Le niveau d'image est riche et méticuleux, montrant en temps réel l'agrandissement, la règle, la tension, la courbe grise
Dimension
& Poids		 Corps du microscope 800x800x1850 mm
Tableau de travail 1340x850x740 mm
Poids total de 400 kg		 Corps du microscope 800 x 800 x 1480 mm
Tableau de travail 1340x850x740 mm
Poids total 450 kg		 Corps du microscope 1000x1000x1730 mm
Tableau de travail 1330x850x740 mm
Poids total de 550 kg
Accessoires facultatifs
Accessoires facultatifs A50. Je vous en prie.7002Spectromètre à rayons X dispersant l'énergie EDS
A50. Je vous en prie.7011Le revêtement à pulvérisation ionique		 A50. Je vous en prie.7001Détecteur d'électrons de rétréditionnement de l'ESB
A50. Je vous en prie.7002Spectromètre à rayons X dispersant l'énergie EDS
A50. Je vous en prie.7011Le revêtement à pulvérisation ionique
A50. Je vous en prie.7030Panneau de commande motorisé		 A50. Je vous en prie.7001Détecteur d'électrons de rétréditionnement de l'ESB
A50. Je vous en prie.7002Spectromètre à rayons X dispersant l'énergie EDS
A50. Je vous en prie.7011Le revêtement à pulvérisation ionique
A50. Je vous en prie.7030Panneau de commande motorisé

Microscope électronique à balayage par souris contrôlé Sem 1x~600000x Magnification A63.7080 15

Microscope électronique à balayage par souris contrôlé Sem 1x~600000x Magnification A63.7080 16
A50. Je vous en prie.7001 Détecteur d'ESB un détecteur de rétrécissement à quatre segments de semi-conducteurs;
Disponible dans les ingrédients A+B, Morphology Info A-B;
Observer les échantillons disponibles sans pulvériser de l'or;
Disponible dans l'observation de l'impureté et de la distribution directement à partir de la carte de l'échelle de gris.
A50. Je vous en prie.7002 EDS (détecteur de rayons X) La fenêtre du nitrure de silicium (Si3N4) pour optimiser la transmission des rayons X à basse énergie pour l'analyse des éléments légers;
L'excellente résolution et leur électronique avancée à faible bruit offrent des performances de débit exceptionnelles;
La petite empreinte offre une certaine souplesse pour assurer une géométrie idéale et des conditions de collecte optimales;
Les détecteurs contiennent une puce de 30 mm2.
A50. Je vous en prie.7003 EBSD (diffraction de faisceau d'électrons à rétrécissement) L'utilisateur pourrait analyser l'orientation cristalline, la phase cristalline et la micro-texture des matériaux et les performances des matériaux connexes, etc.
Optimisation automatique des paramètres de la caméra EBSD
pendant la collecte des données, effectuer une analyse interactive en temps réel pour obtenir le maximum d'informations
toutes les données ont été marquées avec une étiquette de temps, qui peut être consultée à tout moment
haute résolution 1392 x 1040 x 12
Vitesse de balayage et d'indexation: 198 points/seconde, avec Ni comme norme, dans des conditions de 2 à 5nA, il peut assurer le taux d'indexation ≥99%;
fonctionne bien dans les conditions de faible courant de faisceau et de faible tension de 5 kV à 100 pA
précision de mesure de l'orientation: meilleure que 0,1 degré
Utilisation du système d' index triplex: pas besoin de se fier à la définition de bande unique, indexation facile de la mauvaise qualité des motifs
base de données dédiée: base de données spéciale EBSD obtenue par diffraction électronique: > 400 structures de phase
Capacité d'indexation: il peut automatiquement indexer tous les matériaux cristallins de 7 systèmes cristallins.
Les options avancées comprennent le calcul de la rigidité élastique (Elastic Stiffness), le facteur Taylor (Taylor), le facteur Schmidt (Schmidt) et ainsi de suite.
A50. Je vous en prie.7010 Machine de revêtement Équipement de protection par verre: 250 mm; hauteur 340 mm;
Chambre de traitement du verre:
¥88mm; 140mm haut, ¥88mm; 57mm haut;
Taille du stade de l'échantillon: 40 mm (maximum);
Système sous vide: pompe moléculaire et pompe mécanique;
Détection du vide: mesureur Pirani;
Les caractéristiques suivantes sont nécessaires:
Protection contre le vide:20 Pa avec vanne de gonflement à micro-échelle;
Mouvement de l'échantillon: rotation du plan, précession de l'inclinaison.
A50. Je vous en prie.7011 Le revêtement à pulvérisation ionique Chambre de traitement du verre: 100 mm; hauteur 130 mm;
Taille de l'étape de l'échantillon: 40 mm (à contenir 6 tasses d'échantillon);
La taille de la cible dorée est de 58 mm*0,12 mm (épaisseur);
Détection du vide: mesureur Pirani;
Protection contre le vide:20 Pa avec vanne de gonflement à micro-échelle;
Gaz moyen: argon ou air avec entrée d'air spéciale de gaz d'argon et régulateur de gaz à l'échelle microscopique.
A50. Je vous en prie.7012 Couche de pulvérisation d'ions d'argon L' échantillon a été plaqué avec du carbone et de l' or sous vide.
Tableau d'échantillonnage rotatif, revêtement uniforme, taille des particules environ 3-5 nm;
Aucune sélection du matériau cible, aucun dommage aux échantillons;
Les fonctions de nettoyage des ions et d'amincissement des ions peuvent être réalisées.
A50. Je vous en prie.7013 Sécheuse de point critique Pour les véhicules de type à moteur électrique, la valeur de l'indicateur d'alimentation doit être supérieure ou égale à:
la pression est comprise entre 0 et 2000 psi;
Plage de température: 0° à 50° C (32° à 122° F)
A50. Je vous en prie.7014 Lithographie par faisceau électronique Sur la base du microscope électronique à balayage, un nouveau système de nano-exposition a été développé;
La modification a conservé toutes les fonctions de sem pour faire une image de largeur de ligne à l'échelle nanométrique;
Le système Ebl modifié est largement appliqué dans les dispositifs microélectroniques, les dispositifs optoélectroniques, les dispositifs quantiques, la R & D des systèmes microélectroniques.

Microscope électronique à balayage par souris contrôlé Sem 1x~600000x Magnification A63.7080 17
A63. Je vous en prie.7080, A63.7081 Équipement de consommables standard
1 Filament d'émission de champ Installé au microscope 1 Pc
2 Coupe d'échantillon Diamètre 13 mm 5 pièces
3 Coupe d'échantillon Dia.32 mm 5 pièces
4 Ruban conducteur à double face au carbone 6 mm 1 Paquet
5 Graisse sous vide 　 10 pièces
6 Tissu sans poils 　 1 tube
7 Pâte de polissage 　 1 Pc
8 Boîte d'échantillon 　 2 sacs
9 Écouvillons de coton 　 1 Pc
10 Filtre à brouillard de pétrole 　 1 Pc
A63. Je vous en prie.7080, A63.7081 Équipement standard pour outils et pièces détachées
1 Appareil de fermeture à hexagone interne 1.5 mm à 10 mm 1 série
2 Des pinces Longueur 100-120 mm 1 Pc
3 Détecteur de vis à fente 2*50 mm, 2*125 mm 2 pièces
4 Détecteur de vis croisé 2 fois 125 mm 1 Pc
5 tuyau de ventilation propre Le diamètre est supérieur ou égal à 10/6,5 mm. 5 m
6 Valve de réduction de la pression de ventilation Pression de sortie de 0 à 0,6 MPa 1 Pc
7 Énergie de cuisson interne 0-3A courant continu 2 pièces
8 Appareil d'alimentation sous tension 10 kVA 2 pièces

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Étiquettes:

Portable Digital Microscope

Microscope tenu dans la main de Digital

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