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Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
High Resolution Digital Scanning Optical Microscope Huge Sample Stage

Digital de haute résolution balayant l'étape énorme témoin de microscope optique

  • Surligner

    microscope optique de balayage de haute résolution

    ,

    étape énorme témoin balayant le microscope optique

  • Résolution
    3nm@30KV (SE) ; 6nm@30KV (ESB)
  • Rapport optique
    Rapport optique négatif : 8x~300000x ; Rapport optique d'écran : 12x~600000x
  • Canon électronique
    Cartouche de filament de tungstène centrée par cathode-Pré passionnée de tungstène
  • Tension de accélération
    0~30KV
  • Ouverture objective
    Ouverture de molybdène réglable en dehors du système de vide
  • Étape de spécimen
    Étape de cinq haches
  • Lieu d'origine
    La Chine
  • Nom de marque
    OPTO-EDU
  • Certification
    CE, Rohs
  • Numéro de modèle
    A63.7069
  • Quantité de commande min
    1 pc
  • Prix
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Détails d'emballage
    Emballage de carton, pour le transport d'exportation
  • Délai de livraison
    5 ~ 20 jours
  • Conditions de paiement
    T / T, union occidentale, Paypal
  • Capacité d'approvisionnement
    mois de 5000 PCs

Digital de haute résolution balayant l'étape énorme témoin de microscope optique

 
  • 8x ~ 300000x avec détecteur SED + BSED + CCD, étage à cinq axes (Auto X/Y, manuel Z/R/T)
  • LaB6 évolutif, détecteur de rayons X, EBSD, CL, WDS, machine de revêtement, etc.
  • Modification multiple EBL, STM, AFTM, étape de chauffage, étape de Cryo, étape de tension, SEM+Laser et etc.
  • Étalonnage automatique, détection automatique des défauts, faible coût pour l'entretien et la réparation
  • Interface d'utilisation simple et conviviale, entièrement contrôlée par la souris dans le système Windows de l'ordinateur (incluse)
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A63.7069 Fonction principale du logiciel
Régulation haute pression Balayage de lignes verticales Régulation du décalage potentiel
Régulation du courant de filament Réglage du condenseur Mesure multi-échelle
Ajustement astigmate Réglage électrique à central Luminosité / contraste automatique
Réglage de la luminosité Réglage de la lentille d'objectif Mise au point automatique
Réglage du contraste Aperçu des photos Élimination automatique de l'astigmatisme
Ajustement du grossissement Règle active Réglage automatique du filament
Mode de balayage de la zone sélectionnée 4 Réglage de la vitesse de numérisation Gestion des paramètres
Mode de balayage ponctuel Inversion de l'objectif Instantané d'image, gel d'image
Balayage de surface Inversion du condenseur Aperçu rapide d'une clé
Balayage de lignes horizontales Réglage électrique de la rotation  
 

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MEB A63.7069 A63.7080 A63.7081
Résolution 3nm@30KV(SE)
6nm@30KV(ESB)
1.5nm@30KV(SE)
3nm@30KV(ESB)
1.0nm@30KV(SE)
3.0nm@1KV(SE)
2.5nm@30KV(ESB)
Grossissement Grossissement réel négatif 8x ~ 300000x Grossissement réel négatif 8x ~ 800000x Grossissement réel négatif 6x ~ 1000000x
Canon à électrons Cartouche de filament de tungstène pré-centrée Pistolet à émission de champ Schottky Pistolet à émission de champ Schottky
Tension Tension d'accélération 0 ~ 30KV, réglable en continu, ajuster l'étape 100V @ 0-10Kv, 1KV @ 10-30KV
Aperçu rapide Fonction d'image de vue rapide à une touche N / A N / A
Système d'objectif Lentille conique électromagnétique à trois niveaux Lentille conique électromagnétique multi-niveaux
Ouverture 3 ouvertures d'objectif en molybdène, réglables à l'extérieur du système de vide, pas besoin de démonter l'objectif pour changer l'ouverture
Système de vide 1 pompe turbo moléculaire
1 pompe mécanique
Vide de salle d'échantillonnage> 2.6E-3Pa
Aspirateur de salle de pistolet à électrons> 2.6E-3Pa
Contrôle du vide entièrement automatique
Fonction de verrouillage sous vide

Modèle en option : A63.7069-LV
1 pompe turbo moléculaire
2Pompes mécaniques
Vide de salle d'échantillonnage> 2.6E-3Pa
Aspirateur de salle de pistolet à électrons> 2.6E-3Pa
Contrôle du vide entièrement automatique
Fonction de verrouillage sous vide

Faible videPlage 10 ~ 270 Pa pour un changement rapide en 90 secondes pour l'ESB (LV)
1 ensemble de pompe ionique
1 pompe turbo moléculaire
1 pompe mécanique
Vide de salle d'échantillonnage> 6E-4Pa
Aspirateur de salle d'armes à électrons> 2E-7 Pa
Contrôle du vide entièrement automatique
Fonction de verrouillage sous vide
1 pompe ionique à pulvérisation
1 pompe composée d'ions getter
1 pompe turbo moléculaire
1 pompe mécanique
Vide de salle d'échantillonnage> 6E-4Pa
Aspirateur de salle d'armes à électrons> 2E-7 Pa
Contrôle du vide entièrement automatique
Fonction de verrouillage sous vide
Détecteur SE: Détecteur d'électrons secondaire sous vide poussé (avec protection du détecteur) SE: Détecteur d'électrons secondaire sous vide poussé (avec protection du détecteur) SE: Détecteur d'électrons secondaire sous vide poussé (avec protection du détecteur)
ESB: Semi-conducteur 4 Segmentation
Détecteur de rétrodiffusion


Modèle en option : A63.7069-LV
ESB(LV): Semi-conducteur 4 Segmentation
Détecteur de rétrodiffusion
Optionnel Optionnel
CCD :Caméra infrarouge CCD CCD :Caméra infrarouge CCD CCD :Caméra infrarouge CCD
Étendre le port 2 ports d'extension sur la salle d'échantillonnage pour
EDS, BSD, WDS, etc.
4 ports d'extension sur la salle d'échantillonnage pour
ESB, EDS, BSD, WDS, etc.
4 ports d'extension sur la salle d'échantillonnage pour
ESB, EDS, BSD, WDS, etc.
Stade de l'échantillon Stade 5 Axes, 4Auto+1ManuelContrôler
Plage de voyage :
X=70mm, Y=50mm, Z=45mm,
R=360°, T=-5°~+90°(Manuel)
Fonction d'alerte et d'arrêt tactile
5 axesAuto MilieuOrganiser
Plage de voyage :
X=80mm, Y=50mm, Z=30mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Fonction d'alerte et d'arrêt tactile

Modèle facultatif :

A63.7080-M5 axesManuelOrganiser
A63.7080-L5 axesAuto GrandOrganiser
5 axesAuto GrandOrganiser
Plage de voyage :
X=150mm, Y=150mm, Z=60mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Fonction d'alerte et d'arrêt tactile
Spécimen maximum Dia.175mm, Hauteur 35mm Dia.175mm, Hauteur 20mm Dia.340mm, Hauteur 50mm
Système d'images Résolution maximale de l'image fixe réelle 4096x4096 pixels,
Format de fichier image : BMP (par défaut), GIF, JPG, PNG, TIF
Résolution maximale de l'image fixe réelle 16384x16384 pixels,
Format de fichier image : TIF (par défaut), BMP, GIF, JPG, PNG
Vidéo : Enregistrement automatique de la vidéo numérique .AVI
Résolution maximale de l'image fixe réelle 16384x16384 pixels,
Format de fichier image : TIF (par défaut), BMP, GIF, JPG, PNG
Vidéo : Enregistrement automatique de la vidéo numérique .AVI
Logiciel Station de travail PC système Win 10, avec logiciel d'analyse d'image professionnel pour contrôler entièrement le fonctionnement du microscope SEM, spécification de l'ordinateur pas moins que Inter I5 3,2 GHz, mémoire 4G, écran LCD IPS 24", disque dur 500G, souris, clavier
Affichage de photos Le niveau d'image est riche et méticuleux, montrant un grossissement en temps réel, une règle, une tension, une courbe de gris
Dimension
& Lester
Corps de Microscope 800x800x1850mm
Table de travail 1340x850x740mm
Poids total 400Kg
Corps de Microscope 800x800x1480mm
Table de travail 1340x850x740mm
Poids total 450Kg
Corps de Microscope 1000x1000x1730mm
Table de travail 1330x850x740mm
Poids total 550Kg
Accessoires optionnels
Accessoires optionnels A50.7002Spectromètre à rayons X à dispersion d'énergie EDS
A50.7011Coucheuse par pulvérisation ionique
A50.7001Détecteur d'électrons à rétrodiffusion BSE
A50.7002Spectromètre à rayons X à dispersion d'énergie EDS
A50.7011Coucheuse par pulvérisation ionique
A50.7030Motoriser le panneau de commande
A50.7001Détecteur d'électrons à rétrodiffusion BSE
A50.7002Spectromètre à rayons X à dispersion d'énergie EDS
A50.7011Coucheuse par pulvérisation ionique
A50.7030Motoriser le panneau de commande
 
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A50.7001 Détecteur d'ESB Détecteur de rétrodiffusion à quatre segments à semi-conducteur ;
Disponible dans les ingrédients A+B, Morphology Info AB;
Échantillon disponible Observer sans pulvériser d'or ;
Disponible dans Observez les impuretés et la distribution à partir de la carte en niveaux de gris directement.
A50.7002 EDS (détecteur de rayons X) Fenêtre en nitrure de silicium (Si3N4) pour optimiser la transmission des rayons X à faible énergie pour l'analyse des éléments légers ;
Excellente résolution et leur électronique avancée à faible bruit offrent des performances de débit exceptionnelles ;
La petite empreinte offre une flexibilité pour garantir une géométrie idéale et des conditions de collecte Aata ;
Les détecteurs contiennent une puce de 30 mm2.
A50.7003 EBSD (diffraction rétrodiffusée par faisceau d'électrons) l'utilisateur peut analyser l'orientation cristalline, la phase cristalline et la micro-texture des matériaux et les performances des matériaux connexes, etc.
optimisation automatique des paramètres de la caméra EBSD
lors de la collecte de données, faire une analyse interactive en temps réel pour obtenir un maximum d'informations
toutes les données ont été marquées avec une étiquette de temps, qui peut être consultée à tout moment
haute résolution 1392 x 1040 x 12
Vitesse de balayage et d'indexation : 198 points/sec, avec Ni comme standard, sous la condition de 2~5nA, il peut assurer le taux d'indexation ≥99 % ;
fonctionne bien dans des conditions de faible courant de faisceau et de basse tension de 5kV à 100pA
précision de la mesure de l'orientation : meilleure que 0,1 degré
Utilisation du système d'index triplex : pas besoin de s'appuyer sur une définition de bande unique, indexation facile d'une mauvaise qualité de motif.
base de données dédiée : base de données spéciale EBSD obtenue par diffraction électronique : >400 structure de phase
Capacité d'indexation : il peut indexer automatiquement tous les matériaux cristallins de 7 systèmes cristallins.
Les options avancées incluent le calcul de la rigidité élastique (rigidité élastique), du facteur Taylor (Taylor), du facteur Schmidt (Schmid), etc.
A50.7010 Machine de revêtement Coque de protection en verre : ∮250 mm ;340 mm de haut ;
Chambre de traitement du verre :
∮88mm;140 mm de haut, ∮ 88 mm ;57 mm de haut ;
Taille de l'étape du spécimen : ∮40 mm (max) ;
Système de vide : pompe moléculaire et pompe mécanique ;
Détection du vide : Pirani Gage ;
Vide : meilleur que 2 X 10-3 Pa ;
Protection contre le vide : 20 Pa avec valve de gonflage microscopique ;
Mouvement du spécimen : Rotation du plan, précession de l'inclinaison.
A50.7011 Coucheuse par pulvérisation ionique Chambre de traitement du verre : ∮100 mm ;130 mm de haut ;
Taille de l'étape du spécimen : ∮40 mm (contient 6 tasses à spécimen) ;
Taille cible dorée : ∮ 58 mm x 0,12 mm (épaisseur) ;
Détection du vide : Pirani Gage ;
Protection contre le vide : 20 Pa avec valve de gonflage microscopique ;
Gaz moyen: argon ou air avec entrée d'air spéciale pour gaz argon et régulation du gaz à l'échelle microscopique.
A50.7012 Revêtement par pulvérisation ionique d'argon L'échantillon a été plaqué de carbone et d'or sous vide poussé ;
Table d'échantillon rotative, revêtement uniforme, taille des particules d'environ 3 à 5 nm ;
Aucune sélection de matériau cible, aucun dommage aux échantillons ;
Les fonctions de nettoyage ionique et d'amincissement ionique peuvent être réalisées.
A50.7013 Sécheur de point critique Diamètre intérieur : 82 mm, longueur intérieure : 82 mm ;
Plage de pression : 0-2000 psi ;
Plage de température : 0°-50° C (32°-122° F)
A50.7014 Lithographie par faisceau d'électrons Basé sur le microscope électronique à balayage, un nouveau système de nano-exposition a été développé ;
La modification a conservé toutes les fonctions Sem pour créer une image de largeur de ligne à l'échelle nanométrique ;
Le système Ebl modifié largement appliqué dans les dispositifs microélectroniques, les dispositifs optoélectroniques, les dispositifs Quantun, la R&D sur les systèmes microélectroniques.
 
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A63.7069 Ensemble de consommables standard
1 Filament de tungstène Pré-centré, importé 1 boîte (5 pièces)
2 Tasse d'échantillon Dia.13mm 5 pièces
3 Tasse d'échantillon Dia.32mm 5 pièces
4 Ruban conducteur double face en carbone 6mm 1 paquet
5 Graisse sous vide   10 pièces
6 Tissu sans poils   1 Tube
sept Pâte à polir   1 pc
8 Boîte d'échantillons   2 Sacs
9 Coton-tige   1 pc
dix Filtre à brouillard d'huile   1 pc
A63.7069 Ensemble d'outils et de pièces standard
1 Clé hexagonale intérieure 1,5 mm ~ 10 mm 1 jeu
2 Pince à épiler Longueur 100-120mm 1 pc
3 Tournevis à fente 2*50mm, 2*125mm 2 pièces
4 Tournevis cruciforme 2*125 mm 1 pc
5 Extracteur de diaphragme   1 pc
6 Tige de nettoyage   1 pc
sept Outil de réglage du filament   1 pc
8 Joint de réglage du filament   3 pièces
9 Extracteur de tubes   1 pc
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