A63. Je vous en prie.7088 | |
Résolution | 1.0nm@30KV (SE), 1,5nm@1KV (SE) |
Magnification | 1x à 2000000x |
Pistolet électronique | Pistolet à émission de champ Schottky |
Voltage | Voltage d'accélération 0,02 à 30 KV |
Faisceau électronique | 1pA à 20nA |
Système à vide | 1 pompe à ions sputter, 1 pompe turbo moléculaire, 1 pompe mécanique |
Détecteur | SE dans les lentilles, SE dans la salle d'échantillonnage, ESB, CCD |
Étendre le port | Étendre les ports sur la salle d'échantillonnage pour l'ESB, l'EDS, l'EBSD, le CL, etc. |
Étape du prélèvement | 5 AxesAutomobileLa distance de déplacement doit être comprise entre les points suivants: |
Maximum de spécimens | Salle d'échantillonnage diamètre 330 mm, hauteur 260 mm |
Système d'image | Résolution maximale de l'image fixe réelle 256x256 ~ 16k ~ 16k Pixels |
Ordinateur et logiciels | PC Workstation Système Windows, avec un logiciel professionnel d'analyse d'image pour contrôler complètement l'ensemble du fonctionnement du microscope SEM, de la souris, du clavier |
Panneau de commande | Inclus |
Dimension et poids | Corps principal 1900x1100x1800 mm, poids total 800 kg |
Accessoires facultatifs | |
A50. Je vous en prie.7091 | Nettoyeur de faisceau ionique |
A50. Je vous en prie.7092 | Lampe à canon à émission de champ |
▶Conception électronique-optique supérieure ●Pistolet électronique à émission de champ thermique, faisceau stable, haute résolution d'imagerie ●La technologie d'accélération à tube complet assure une haute performance d'imagerie du faisceau d'électrons à basse tension d'accélération ●Conception de lentille composite de lentille électrostatique et lentille magnétique, la lentille objective n'a pas de fuite magnétique, et l'imagerie des échantillons magnétiques est sans souci |
▶Système complet de collecte des signaux ● Peut collecter simultanément des signaux de deux types d'électrons secondaires, les électrons rétrécissés et les électrons transmis. ● Le contraste entre la morphologie de l'échantillon et sa composition est affiché simultanément afin de révéler au mieux la morphologie microscopique et la composition de l'échantillon. |