Microscope à force atomique à balayage de sonde

• La conception de la tête de balayage à portique, la base en marbre, l'étape d'adsorption sous vide, la taille et le poids de l'échantillon sont fondamentalement illimités
• Méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille avec détection automatique des céramiques piézoélectriques commandées par moteur pour protéger les sondes et les échantillons
• Positionnement optique automatique, pas besoin d'ajuster la mise au point, l'observation en temps réel et la zone de balayage de l'échantillon de la sonde de positionnement
• Équipé d'un bouclier métallique fermé, d'une table pneumatique absorbant les chocs, d'une forte capacité anti-interférences;
• Éditeur utilisateur de correction non linéaire du scanner intégré, caractérisation nanométrique et précision de mesure supérieure à 98 %

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• ◆ Le premier microscope à force atomique commercial en Chine qui maintient l'échantillon immobile et la sonde se déplace et scanne ;

  ◆ La taille et le poids de l'échantillon sont presque illimités, particulièrement adaptés à la détection de très grands échantillons ;

• ◆ L'étage d'échantillonnage est hautement extensible, ce qui est très pratique pour une combinaison multi-instruments afin de réaliser une détection in situ ;

  ◆ Contrôle électrique de la table mobile d'échantillons et de la table élévatrice, qui peut être programmée avec une position multipoint pour réaliser une détection automatique rapide ;

  ◆ Conception de tête de balayage à portique, base en marbre, étape d'adsorption sous vide et d'adsorption magnétique;

• ◆ Le moteur contrôle automatiquement la méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille de la détection automatique en céramique piézoélectrique pour protéger la sonde et l'échantillon ;

• ◆ Positionnement du microscope optique auxiliaire à fort grossissement, observation et positionnement en temps réel de la zone de balayage de la sonde et de l'échantillon ;

• ◆ Éditeur utilisateur de correction non linéaire du scanner intégré, caractérisation nanométrique et précision de mesure supérieure à 98 %.

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• 	A62.4510	A62.4511
  En mode travail	Mode de contact Mode tapotement [Optionnel] Mode de friction Mode phases Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode tapotement [Optionnel] Mode de friction Mode phases Mode magnétique Mode électrostatique
  Courbe du spectre actuel	Courbe RMS-Z Courbe de force FZ	Courbe RMS-Z Courbe de force FZ
  Mode de balayage XY	Balayage piloté par sonde, Scanner de tube piézo	Balayage piloté par échantillon, étage de balayage piézoélectrique en boucle fermée
  Plage de balayage XY	70×70um	Boucle fermée 100×100um
  Résolution de numérisation XY	0,2 nm	Boucle fermée 0,5 nm
  Mode de balayage Z		Numérisation pilotée par sonde
  Plage de balayage Z	5um	5um
  Résolution de balayage Z	0,05 nm	0,05 nm
  Vitesse de numérisation	0,6 Hz ~ 30 Hz	0,6 Hz ~ 30 Hz
  Angle de balayage	0~360°	0~360°
  Poids de l'échantillon	≤15Kg	≤0.5Kg
  Taille de la scène	Dia.100mm [Optionnel] Dia.200mm Dia.300mm	Dia.100mm [Optionnel] Dia.200mm Dia.300mm
  Étape XY Déplacement	100x100mm, Résolution 1um [Optionnel] 200x200mm 300x300mm	100x100mm, Résolution 1um [Optionnel] 200x200mm 300x300mm
  Déménagement de l'étape Z	15 mm, résolution 10 nm [Optionnel] 20mm 25mm	15 mm, résolution 10 nm [Optionnel] 20mm 25mm
  Conception absorbant les chocs	Suspension à ressort [Optionnel] Amortisseur actif	Suspension à ressort [Optionnel] Amortisseur actif
  Système optique	Objectif 5x Appareil photo numérique 5.0M [Optionnel] Objectif 10x Objectif 20x	Objectif 5x Appareil photo numérique 5.0M [Optionnel] Objectif 10x Objectif 20x
  Production	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Logiciel	Win XP/7/8/10	Win XP/7/8/10
  Corps principal	Tête de lecture à portique, base en marbre	Tête de lecture à portique, base en marbre

• Microscope	Microscope optique	Microscope électronique	Microscope à sonde à balayage
  Résolution maximale (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Remarque	Immersion dans l'huile 1500x	Imagerie des atomes de carbone du diamant	Imagerie d'atomes de carbone graphitiques d'ordre élevé

• Interaction sonde-échantillon	Mesurer le signal	Informations
  Force	Force électrostatique	Forme
  Courant tunnel	Courant	Forme, conductivité
  Force magnétique	Phase	Structure magnétique
  Force électrostatique	Phase	répartition des charges

• 	Résolution	Condition de travail	Température de travail	Dommage à l'échantillon	Profondeur d'inspection
  MPS	Niveau atomique 0,1 nm	Normal, Liquide, Vide	Chambre ou basse température	Aucun	1 ~ 2 niveau d'atome
  TEM	Pointe 0,3 ~ 0,5 nm Réseau 0,1 ~ 0,2 nm	Vide poussé	Température ambiante	Petit	Habituellement <100nm
  MEB	6-10nm	Vide poussé	Température ambiante	Petit	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Niveau atomique 0,1 nm	Super haut vide	30~80K	Dommage	Épaisseur d'atome

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