◆ Conception miniaturisée et détachable, très facile à transporter et à enseigner en classe
◆ La tête de détection et l'étape de numérisation de l'échantillon sont intégrées, la structure est très stable et l'anti-interférence est forte
◆ L'échantillon d'entraînement à axe unique s'approche automatiquement de la sonde verticalement, de sorte que la pointe de l'aiguille soit perpendiculaire au balayage de l'échantillon
◆ La méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille de détection automatique en céramique piézoélectrique sous pression contrôlée par moteur protège la sonde et l'échantillon
◆ Système d'observation CCD latéral, observation en temps réel de l'état d'insertion de l'aiguille de la sonde et positionnement de la zone de balayage de l'échantillon de la sonde
◆ Méthode antichoc à suspension à ressort, simple et pratique, bon effet antichoc
◆ Éditeur utilisateur de correction non linéaire du scanner intégré, caractérisation nanométrique et précision de mesure supérieure à 98 %
| A61.4510 | |
| En mode travail | Mode hauteur constante Mode courant constant |
| Courbe du spectre actuel | Courbe IV Courbe courant-distance |
| Plage de balayage XY | 5×5um |
| Résolution de numérisation XY | 0,05 nm |
| Plage de balayage Z | 1um |
| Résolution de numérisation Y | 0,01 nm |
| Vitesse de numérisation | 0,1 Hz à 62 Hz |
| Angle de balayage | 0~360° |
| Taille de l'échantillon | Φ≤68mm H≤20mm |
| Déplacement de scène XY | 15×15mm |
| Conception absorbant les chocs | Suspension à ressort |
| Système optique | Zoom continu 1 ~ 500x |
| Production | USB2.0/3.0 |
| Logiciel | Win XP/7/8/10 |
| Microscope | Microscope optique | Microscope électronique | Microscope à sonde à balayage |
| Résolution maximale (um) | 0,18 | 0,00011 | 0,00008 |
| Remarque | Immersion dans l'huile 1500x | Imagerie des atomes de carbone du diamant | Imagerie d'atomes de carbone graphitiques d'ordre élevé |
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| Interaction sonde-échantillon | Mesurer le signal | Informations |
| Force | Force électrostatique | Forme |
| Courant tunnel | Courant | Forme, conductivité |
| Force magnétique | Phase | Structure magnétique |
| Force électrostatique | Phase | répartition des charges |
| Résolution | Condition de travail | Température de travail | Dommage à l'échantillon | Profondeur d'inspection | |
| MPS | Niveau atomique 0,1 nm | Normal, Liquide, Vide | Chambre ou basse température | Aucun | 1 ~ 2 niveau d'atome |
| TEM | Pointe 0,3 ~ 0,5 nm Réseau 0,1 ~ 0,2 nm |
Vide poussé | Température ambiante | Petit | Habituellement <100nm |
| MEB | 6-10nm | Vide poussé | Température ambiante | Petit | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Niveau atomique 0,1 nm | Super haut vide | 30~80K | Dommage | Épaisseur d'atome |
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