SEM ♦Afforadable
panneau ♦English d'opération
ensemble de ♦Full de logiciel automatisé
service de ♦Modification disponible
♦Bestseller SEM
La microscopie électronique (sem) de balayage convient à l'observation de la topographie extérieure des métaux, de la céramique, des semi-conducteurs, des minerais, de la biologie, des polymères, des composés et des matériaux unidimensionnels, bidimensionnels et tridimensionnels de nano-échelle (image d'électron secondaire, image d'électron rétrodiffusée). Elle peut être employée pour analyser les composants de point, de ligne et de surface du microregion. Elle est très utilisée dans le pétrole, la géologie, le domaine minéral, l'électronique, le gisement de semi-conducteur, la médecine, le champ de biologie, l'industrie chimique, le domaine des matériels de polymère, l'enquête criminelle de la sécurité publique, l'agriculture, la sylviculture et d'autres champs.
| Filament SEM de tungstène d'A63.7062 Eco | ||
| Résolution | 4.5nm@30KV (SE) ; 6nm@30KV (ESB) | |
| Rapport optique | Rapport optique négatif : 15x~250000x ; Rapport optique d'écran : 30x~500000x | |
| Canon électronique | Cartouche de filament de tungstène centrée par cathode-Pré de chauffage par tungstène | |
| Tension de accélération | 0~30KV | |
| Système de lentille | Lentille électromagnétique à trois nivaux (lentille conique) | |
| Ouverture objective | Système extérieur réglable de vide d'ouverture de molybdène | |
| Étape de spécimen | Étape de cinq haches | |
| Chaîne de voyage | X (automobile) | 0~50mm |
| Y (automatique) | 0~50mm | |
| Z (manuel) | 0~25mm | |
| R (manuel) | 360º | |
| T (manuel) | -5º~90º | |
| Diamètre maximum de spécimen | 150mm | |
| Détecteur | Détecteur électronique secondaire de vide poussé (avec la protection de détecteur) | |
| Modification | Hausse d'étape ; EBL ; STM ; AFM ; Étape de chauffage ; Étape de Cryo ; Étape de tension ; manipulateur de Micro-nano ; Machine de SEM+Coating ; SEM+Laser | |
| Accessoires | CCD, laboratoire6, détecteur de rayon X (EDS), EBSD, CL, WDS, machine de revêtement | |
| Système de vide | Pompes moléculaires de Turbo ; Pompe de rotation | |
| Courant de faisceau d'électrons | 10pAt~0.1μA | |
| PC | Le poste de travail adapté aux besoins du client de Dell | |
Cartouche de filament de tungstène centrée par cathode-Pré de chauffage par tungstène
La lentille électromagnétique dans ce cylindre
La valve de isolement s'assure que le vide supérieur n'est pas affecté quand la salle témoin est ouverte
Ouverture objective
L'échantillon à être le besoin observé de mettre DANS la salle témoin
L'étape de cinq haches, X/Y a motorisé le contrôle (petit)
| Consommables | ||||
| Nom | Spécifications | Quantité | Unité | |
| 1 | Filament centré de cartouche | 5 | ensemble | |
| 2 | Tasse de spécimen | (φ13) | 10 | PCs |
| 3 | Tasse de spécimen | (φ32) | 10 | PCs |
| 4 | Bande conductrice de carbone (double côté) | 6mm | 1 | PC |
| 5 | Graisse de vide | 1 | Bouteille | |
| 6 | Chiffon non pelucheux | 20 | PCs | |
| 7 | Conduit-tuyau | 5 | mètre | |
| 8 | Pâte de polissage | 1 | ensemble | |
| Outils | ||||
| Nom | Quantité | Unité | ||
| 1 | Clé Allen | 1 | ensemble | |
| 2 | Nettoyez le bâton | 1 | PC | |
| 3 | Dépassé | 1 | PC | |
| 4 | Ouverture enlevant l'outil | 1 | PC | |
| 5 | Brucelles | 1 | PC | |
| 6 | Tournevis | 2 | PCs | |
Détecteur électronique secondaire de vide poussé
Interface accessoire facultative de connexion
A63.7062 fenêtre de soutien trois synchrone, deux Chanel (SE+BSE) avec la fenêtre de CCD ; Résolution d'image : Pixels 4096*4096
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